具有存储器封装下的控制器的存储器装置及相关的系统及方法与流程

日期:2019-05-16 04:55:40


所揭示的实施例涉及具有存储器封装及控制器的存储器装置。在若干实施例中,本发明涉及包含位于存储器封装的堆叠下的嵌入式控制器的存储器装置。



背景技术:

快闪存储器常用于存储智能电话、导航系统(例如汽车导航系统)、数码相机、MP3播放器、计算机及许多其它消费型电子装置的数据。通用串行总线(USB)装置、存储器卡、嵌入式磁盘驱动器及其它数据存储装置通常包含快闪存储器,这是归因于快闪存储器的小形状因子。电子装置中的专用存储器控制器可管理存储于快闪存储器上的数据。不幸地,这些专用存储器控制器会减少电子装置中的其它组件的可用空间。为减小电子装置的大小,可将存储器控制器集成到主机处理器中以(例如)增加其它电子组件的可用空间。举例来说,主机处理器可具有管理由快闪存储器存储的数据的集成存储器控制器(IMC),但这些IMC与特定类型的存储器兼容且通常无法支持新型存储器,例如针对未来标准(例如嵌入式多媒体卡(eMMC)标准规格的未来版本)而设计的新“与非”存储器。由于IMC将电子装置限制于特定类型的快闪存储器,所以所述电子装置无法使用具有较高存储密度、改进性能或增强功能的新存储器。

存储器控制器还可嵌入于多裸片存储器封装内。举例来说,常规eMMC存储器可为具有嵌入式多媒体卡(MMC)控制器的单高容量“与非”封装(例如具有堆叠裸片的“与非”封装)。所述嵌入式MMC控制器可使主机处理器免于执行需要大量计算资源的“与非”存储器管理(例如写入、读取、擦除、错误管理等等)。因为“与非”裸片具有难以测试的小特征,所以在封装之前不测试个别“与非”裸片。多裸片“与非”封装可经测试以识别待舍弃的坏封装(例如,具有坏“与非”裸片的封装)。不幸地,坏“与非”封装中的嵌入式MMC控制器还被舍弃,从而导致制造成本增加。

附图说明

图1是根据本发明的实施例而配置的存储器装置的横截面图。

图2是根据本发明的实施例而配置的多裸片存储器封装的横截面图。

图3A到3E是说明根据本发明的实施例的各种制造阶段中的存储器装置的横截面图。

图4是根据本发明的另一实施例而配置的存储器装置的横截面图。

图5是说明根据本发明的实施例的合适用于存储器装置的实施方案的框电路图。

图6是包含根据本发明的实施例而配置的存储器装置的系统的示意图。

具体实施方式

下文将描述存储器装置及相关系统及方法的一些实施例的特定细节。术语“存储器装置”一般是指具有封装衬底、一或多个多裸片存储器封装及控制器的封装。所述控制器可定位于所述存储器封装下且可对每一存储器封装提供存储器管理。在一些实施例中,存储器装置可为具有合适用于移动装置(例如智能电话、平板计算机、MP3播放器等等)、数码相机、路由器、游戏系统、导航系统、计算机及其它消费型电子装置的多裸片存储器封装的快闪存储器(例如eMMC存储器、通用快闪存储装置等等)。举例来说,所述多裸片存储器封装可为(例如)快闪存储器封装,例如“与非”封装、“或非”封装等等。相关领域的技术人员还应了解,本发明可具有额外实施例,且可在无下文参考图1到6而描述的实施例的一些细节的情况下实践本发明。

图1是根据本发明的实施例而配置的存储器装置100的横截面图。存储器装置100可包含封装衬底104(“衬底104”)、控制器106及布置成堆叠的第一、第二、第三及第四多裸片存储器封装108a、108b、108c、108d(统称为“存储器封装108”)。衬底104可电耦合到控制器106及存储器封装108,使得控制器106介接于存储器封装108与主机(例如电子装置的主机处理器)之间,所述主机与存储器装置100通信。控制器106可附着到衬底104。在一些实施例中,控制器106可定位于存储器封装108的堆叠下,使得存储器装置100具有相对较小占用面积。

控制器106可处置存储器管理,使得主机处理器免于执行其它任务。在各种实施例中,控制器106可包含电路、软件、固件、存储器或其组合且可经配置以管理快闪存储器(例如“与非”存储器、“或非”存储器等等)。在一些实施例中,控制器106可为包含半导体衬底(例如硅衬底、绝缘体上硅衬底、化合物半导体(例如氮化镓)衬底或其它合适衬底)的控制器裸片,且可具有各种集成电路组件或功能特征中的任何者,例如动态随机存取存储器(DRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、其它形式的集成电路装置(其包含处理电路、成像组件及/或用于管理存储器或其它组件的其它半导体装置)。举例来说,控制器106可为经配置以与“与非”存储器一起使用的多媒体控制器裸片(例如MMC控制器裸片)且可包含电路、寄存器、接口模块(例如用于与主机介接的模块,用于与存储器封装介接的模块等等)及/或用于提供所要功能的其它模块。

衬底104可包含第一接合垫120及第二接合垫122。第一接合垫120可通过第一线接合140而耦合到控制器106的对应接合垫130,且第二接合垫122可通过第二线接合142而耦合到存储器封装108中的每一者的对应封装接点132(识别一者)。在一个实施例中,衬底104是将控制器106电耦合到每一存储器封装108的单个中介层。衬底104可包含(例如)具有电连接器144(以虚线示意性地展示)(例如金属迹线、通孔或其它合适连接器)的印刷电路板、多媒体卡衬底或其它合适中介层。电连接器144可使控制器106、第一接合垫120及/或第二接合垫122彼此耦合及/或经由衬底104的下侧处的封装接点150(识别一者)及互连件152(识别一者)而耦合到外部电路(图中未展示)。互连件152可为凸块接合件或其它合适连接特征。

控制器106可通过粘合剂160而附着到封装衬底104。粘合剂160可为粘合剂材料(例如环氧树脂、粘胶(adhesive paste)等等)、粘合剂叠层(例如胶带、裸片附着或切块裸片附着膜等等)或其它合适材料。第一存储器封装108a可通过覆盖控制器106及线接合140的粘合剂162而附着到衬底104。接着,额外存储器封装108b到108d通过粘合剂164而彼此附着。在一些实施例中,粘合剂160、162、164可包括相同或类似材料。粘合剂162可具有比粘合剂164厚的厚度以容纳控制器106与存储器封装108a之间的线接合140的部分。粘合剂164的厚度可足够大以确保线接合142穿过相邻存储器封装108之间的间隙166(识别一者)。存储器装置100可进一步包含封装壳115,其包括至少部分囊封存储器封装108及线接合142的囊封剂116。

图2是根据本发明的实施例而配置的存储器封装108的横截面图。存储器封装108可包含多个存储器半导体裸片200(识别一者)及存储器封装衬底202(“封装衬底202”)。封装衬底202可包含多个第一接合垫208a及多个第二接合垫208b。第一接合垫208a可耦合到(例如,线接合到)第一群组的半导体裸片200(例如两组的四个裸片)的对应接合垫209a(识别一者),且第二接合垫208b可耦合到(例如,线接合到)第二群组的半导体裸片200(例如两组的四个裸片)的对应接合垫209b(识别一者)。在一些实施例中,接合垫208a的阵列电耦合到每一半导体裸片200的阵列的接合垫209a。可基于相应接合垫209a、209b的配置、数目及大小而选择接合垫208a、208b的配置、数目及大小。在一些实施例中,一行接合垫208b电耦合到每一半导体裸片200的一行接合垫209b。封装衬底202可包含(例如)具有电连接器(例如金属迹线、通孔或其它合适连接器)的中介层、印刷电路板或其它合适衬底,所述电连接器包含用于将存储器封装108电耦合到衬底104(图1)的封装接点132(例如接合垫)、互连件(例如凸块接合件)及/或其它特征。

图2展示呈垂直堆叠布置的半导体裸片200,其中相邻半导体裸片200彼此横向偏移。在其它实施例中,半导体裸片200可直接垂直堆叠于彼此上(即,无任何横向偏移),或呈任何其它合适堆叠布置,且可由半导体衬底(例如硅衬底、绝缘体上硅衬底、化合物半导体(例如氮化镓)衬底或其它合适衬底)形成。半导体裸片200可为经切割或单一化裸片且可具有各种集成电路组件或功能特征中的任何者,例如非易失性存储器、快闪存储器(例如“与非”快闪存储器、“或非”快闪存储器等等)、DRAM、SRAM、其它形式的集成电路装置(例如处理电路、成像组件及/或其它半导体装置)。尽管所说明的存储器封装108包含16个存储器裸片200,但存储器封装108还可为具有16个以上或16个以下存储器裸片(例如一个裸片、两个裸片、四个裸片、八个裸片、十个裸片、二十个裸片等等)的多芯片封装。可基于存储器封装108的所要存储容量而选择裸片的数目。由于嵌入式控制器106可管理多个存储器封装,所以存储器封装中的一或多者(例如所有存储器封装108)可不具有用于存储器管理的任何嵌入式控制器裸片。

存储器封装108可进一步包含由至少部分囊封半导体裸片200的堆叠及线接合的囊封剂116(例如热固性材料、环氧树脂或其它合适材料)组成的封装壳215。封装壳215可提供免受周围环境(例如湿度)影响的遮蔽、电隔离(例如线接合之间的电隔离)及/或在处置期间对内部组件的保护。

图3A到3E是说明根据本发明的实施例的用于组装各种制造阶段中的存储器装置100的方法的横截面图。一般来说,控制器106可耦合到衬底104且接着第一存储器封装108a可耦合到衬底104,使得控制器106定位于第一存储器封装108a与封装衬底104之间。额外存储器封装可堆叠于存储器封装108a上。在将存储器封装108电耦合到衬底104之后,可由囊封剂116囊封存储器封装108。下文将详细讨论制造阶段的细节。

参考图3A,可沿衬底104(例如具有电路的硅晶片)的上表面240定位第一接合垫120及第二接合垫122,且可沿衬底104的下表面242定位封装接点150。控制器106通常具有比封装108小的占用面积,因此,控制器106可在堆叠封装组合件108之前附着且电耦合到衬底104。有利地,控制器106及其电连接件(例如线接合140)不会干扰存储器封装108的堆叠及附着。如图3A中所展示,可将携载粘合剂160的控制器106放置于衬底104的上表面240上,使得控制器106与接合垫120、122隔开以提供用于线接合的足够空隙。粘合剂160可为裸片附着粘胶或粘合剂元件,例如裸片附着膜或切块裸片附着膜(分别被所属领域的技术人员称为“DAF”或“DDF”)。在一个实施例中,粘合剂160可包含压力凝固粘合剂元件(例如胶带或膜),当所述压力凝固粘合剂元件被压缩超过压力的阈值水平时,所述压力凝固粘合剂元件将控制器106粘着到衬底104。在另一实施例中,粘合剂160可为通过暴露于UV辐射而凝固的UV凝固胶带或膜。

图3B展示将控制器106附着到衬底104且形成第一线接合140之后的存储器装置100。控制器106的对置横向侧可具有通过线接合140而耦合到对应接合垫120(例如一行接合垫120)的阵列的接合垫130(例如一行接合垫130)。封装108a可携载呈合适于与线接合一起使用的“导线上膜(film-over-wire)”材料的形式的粘合剂162。在其它实施例中,可使用焊料或其它合适直接裸片附着技术来将控制器106直接耦合到衬底104。在此类实施例中,粘合剂162可为DAF或DDF。可将具有粘合剂162的存储器封装108a放置于衬底140的上表面240上,使得存储器封装108a横向向外延伸超过控制器106的外围。因而,可在组装期间将整个控制器106直接定位于存储器封装108a与衬底104之间。粘合剂162的厚度可足够大以防止存储器封装108a的下表面243与线接合140之间的接触以避免损坏线接合140。此外,可将接合垫120直接定位于存储器封装108a下以确保控制器106的电连接件不干扰后续线接合过程。

图3C展示将存储器封装108a附着到衬底104且形成第二线接合142之后的存储器装置100。可使用粘合剂164来将第二存储器封装108b附着到第一存储器封装108a。额外存储器封装(用隐线展示存储器封装108c)可堆叠于存储器封装108上且电耦合到衬底104。粘合剂164的厚度可经选择以维持相邻存储器封装108之间的所要距离以避免损坏线接合142。举例来说,粘合剂164可足够厚以防止线接合142与相邻存储器封装108之间的接触恰好位于此类线接合142上。

图3D展示已通过线接合142而将每一存储器封装108电耦合到衬底104之后的存储器装置100。每一存储器封装108的对置横向侧可具有通过线接合142而耦合到对应接合垫122(例如一行接合垫122)的阵列的接合垫132(例如一行接合垫132)。所说明的存储器装置100具有四个存储器封装108。在其它实施例中,存储器装置100可携载更多或更少存储器封装108,例如单个存储器封装108、两个存储器封装108、五个存储器封装108、八个存储器封装108、十个存储器封装108、十五个存储器封装108等等。存储器装置100除包含存储器封装108中的一或多者之外,还可包含其它封装或裸片,及/或可包含其它封装或裸片来代替存储器封装108中的一或多者。可基于存储器装置100的所要功能及尺寸而选择存储器封装及/或裸片的数目、配置及布置。

存储器封装108可布置成垂直堆叠,使得当从上观察时,存储器封装108相对于彼此而居中。此对准布置可提供具有相对较小占用面积的存储器装置100。在其它实施例中,垂直堆叠的存储器封装180可经彼此横向偏移以提供用于接近接合垫132的增大空隙。可基于(例如)线接合过程或其它后续过程而选择横向偏移的方向及距离。存储器封装108可堆叠成其它布置及配置以提供具有所要总大小的封装。

图3E展示囊封剂116至少部分囊封存储器封装108的堆叠及线接合142(识别一个群组的线接合)之后的存储器装置100。囊封剂116可包含(例如)热固性材料、树脂(例如环氧树脂)或其它合适材料(其提供(例如)机械支撑、免受周围环境(例如湿度)影响的遮蔽、及/或电隔离(例如线接合之间的电隔离))。在一些实施例中,可由囊封剂116完全囊封存储器封装108及线接合146。在囊封存储器封装108之后,处理可继续到后续制造阶段,例如形成球形接合件、单一化、切块或其它所要过程。

图3A到3E的制造过程可提高产品合格率,这是因为可在组装之前测试个别组件。存储器封装108可经个别测试以确保每一存储器封装108具有已知良好裸片(KGD)。举例来说,每一存储器封装108可经测试以测试存储器裸片108中的每一者(图2)。有利地,存储器封装108的衬底202(图2)可具有合适使用标准测试设备来测试的相对较大连接件。具有KGD的存储器封装108可经选择以用于组装成封装,同时可舍弃具有已知坏裸片的存储器封装108。因此,衬底104及控制器106仅与良好存储器封装108组装以提供高产率。此外,衬底104可具有用于测试组装之后的衬底104、控制器106、存储器封装108及/或其它内部组件的标准球栅阵列或其它合适特征(例如测试垫)。可识别且舍弃有缺陷的存储器装置100。

图4是根据本发明的另一实施例而配置的存储器装置300的横截面图。存储器装置300可包含大体上类似于结合图1到3E而描述的存储器装置100的特征的特征。存储器装置300可包含通过线接合142(识别一组)而电耦合到封装衬底104的存储器封装108,且控制器106可通过线接合140(被识别的一者)而电耦合到封装衬底104。存储器装置300还可包含存储器封装108a与衬底104之间的一或多个间隔物310。间隔物310可为硅或其它合适材料的经切割或单化部件,其经定尺寸以将第一存储器封装108a定位成略微高于控制器106及线接合140。粘合剂(例如粘胶、DAF、胶带等等)可用于将间隔物310紧固到衬底104及/或存储器封装108a。其它类型之间隔物310(例如b-阶段树脂)可用于使存储器封装108a与衬底104隔开达所要距离且用于紧固存储器封装108a。所述b-阶段树脂可经固化以将存储器封装108a完全粘着到衬底104。

囊封剂116可部分或完全囊封经堆叠的存储器封装108及线接合142,且囊封剂116还可延伸到第一存储器封装108a与衬底104之间的空腔320中。空腔320可由间隔物310的侧壁324、存储器封装108a的下表面243及衬底104的上表面240界定。在制造期间,囊封剂116可流动到空腔320中以至少部分囊封控制器106及线接合140,使得囊封剂116使将控制器106耦合到衬底104的电连接件电隔离。

图5是说明根据本发明的实施例的存储器装置的实施方案的框电路图。存储器装置500可为存储器装置100、300中的一者或可包含大体上类似于存储器装置100、300的特征的特征。存储器装置500可为管理主机502与存储器封装108中的每一者之间的数据传送的封装。控制器106可经配置以提供存储器控制且可包含用于提供功能的一或多个模块520。模块520可包含(但不限于)用于错误校正的错误校正码(ECC)模块、用于错误检测的错误检测码(EDC)模块、耗损均衡模块、用于将逻辑映射到物理块的地址映射模块、用于块管理(例如坏块管理、备用块管理等等)的模块、错误复原模块、用于分区保护的模块、用于从控制器106启动的模块或其它所要模块。控制器106可经由总线510而与主机502介接且可包含经由存储器总线514而可操作地耦合到存储器封装108的接口506。控制器106可为根据多媒体卡规格(例如规格版本4.4、4.41等等)而设计的MMC控制器。在一些嵌入式多媒体卡(eMMC)实施例中,控制器106可具有总线510,其提供双向数据信号(例如用于单位数据传送、4位数据传送、8位数据传送等等的数据信号),从主机502接收命令信号,对主机502作出响应,及/或时控用于使总线传送同步的信号。

主机502可包含具有处理能力的装置且能够与存储器装置500介接。主机502可为移动装置的组件(例如主机控制器、硬件、处理器、驱动器等等)、个人计算机、游戏机或能够将命令输入提供到存储器装置500的其它电子装置。控制器106可基于来自主机502的命令输入而管理数据(例如写入、读取、擦除数据)。

本文所描述的存储器装置中的任一者可并入到许多更大及/或更复杂系统中的任何者(例如图6中所示意性地展示的系统600)中。系统600可包含存储器装置602、电源604、主机606(例如I/O驱动器)、处理器608及/或其它子系统或组件610。存储器装置602可为存储器装置100、300、500中的一者或包含大体上类似于上文所描述的存储器装置的特征的特征。主机606可包含大体上类似于图5的主机502的特征。所得系统600可执行各种功能中的任何者,例如存储器存储、数据处理及/或其它合适功能。因此,代表性系统600可为(但不限于)手持式装置(例如移动电话、平板计算机、数字阅读器及数字音频播放器)、计算机、数码相机、电器及车辆(例如汽车、轮船、飞机)。系统600的组件可容纳于单个单元中或分布于多个互连单元中(例如,通过通信网路)。如果存储器装置602是可移除的,那么其可由另一存储器装置(例如具有更先进功能的新存储器装置)替换。存储器装置中的每一者可具有嵌入式控制器,其经配置以管理存储器来避免主机606与板上存储器之间的不兼容。

可基于电子装置的大小而选择本文所揭示的存储器装置的大小。举例来说,图1的存储器装置100或图4的存储器装置300可具有约4mm到约7mm的范围内的高度、约13mm到约17mm的范围内的宽度及约17mm到约25mm的范围内的长度。存储器封装108(参阅图1及2)可具有约0.75mm到约1.5mm的范围内的高度(例如1.2mm)、约12mm到约16mm的范围内的宽度及约16mm到约20mm的范围内的长度。

本文所描述的存储器装置可并入到各种类型的存储装置中。具有“与非”封装的存储器装置(例如图1中的存储器装置100或图4中的存储器装置300)可并入到USB驱动、存储器卡、固态磁盘驱动器或其它高密度存储器存储装置中。具有“或非”封装的存储器装置(例如图1中的存储器装置100或图4中的存储器装置300)可为嵌入式装置的部分。本文所揭示的存储器装置可使用不同类型的堆叠封装(PIP)技术、系统级封装(SIP)技术或其它所要封装技术且可具有(例如)球栅阵列。举例来说,图1中的存储器装置100或图4中的存储器装置300可为具有标准球栅阵列的封装。

本文所揭示的至少一些实施例是包括封装衬底、具有半导体裸片的多个堆叠存储器封装、控制器及囊封剂的存储器装置。所述控制器附着到所述封装衬底且定位于所述存储器封装与所述封装衬底之间。所述控制器经配置以管理所述存储器封装中的每一者。所述囊封剂由所述封装衬底携载且囊封所述存储器封装中的一或多者。

在一些实施例中,存储器装置包括衬底、用于存储的多个堆叠构件、用于控制的构件及囊封剂。用于控制的所述构件附着到用于存储的所述构件且定位于用于存储的所述多个堆叠构件与所述衬底之间。用于控制的所述构件经配置以管理用于存储的所述构件中的每一者。用于存储的每一构件可为存储器封装。所述囊封剂可由所述衬底携载且可囊封用于存储的所述多个堆叠构件。

在一些实施例中,多媒体装置包括中介层、电耦合到所述中介层的存储器构件的堆叠、及多媒体控制构件。所述多媒体控制构件附着到所述中介层且定位于存储器构件的所述堆叠与所述中介层之间。所述多媒体控制构件可经配置以管理主机与所述存储器构件中的每一者之间的数据传送。囊封剂可囊封存储器构件的所述堆叠。每一存储器构件可为多芯片存储器封装。

应从上文了解,本文已出于说明目的而描述本发明的特定实施例,但可在不背离本发明的情况下作出各种修改。如果上下文允许,那么单数或复数术语还可分别包含复数或单数术语。除非用语“或”与明示(其指示所述用语应仅限于意味排除与列表的两个或两个以上项目有关的其它项目的单个项目)相关,否则这列表中的“或”的使用应被解译为包含(a)所述列表中的任何单个项目、(b)所述列表中的所有项目或(c)所述列表中的项目的任何组合。此外,术语“垂直”、“横向”、“上”及“下”可指代存储器装置中的特征鉴于图中所展示的定向的相对方向或位置。然而,这些术语应被广义地解释为包含具有其它定向的存储器装置及其组件(例如,在其侧上翻转或经反转)。

还可在其它实施例中组合或消除特定实施例的上下文中所描述的新技术的某些方面。此外,尽管已在所述实施例的上下文中描述与新技术的某些实施例相关的优点,但其它实施例还可展现此类优点且未必需要所有实施例展现落于本发明的范围内的此类优点。因此,本发明及相关技术可涵盖本文未明确展示或描述的其它实施例。



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